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2025

9-8

環(huán)境掃描鎢燈絲電鏡是一種在氣體環(huán)境下進(jìn)行掃描電子顯微鏡觀察的技術(shù)。與傳統(tǒng)的掃描電子顯微鏡（SEM）不同，它能夠在相對較低的真空或環(huán)境氣體下觀察生物樣品，因此特別適用于生物樣品、濕潤樣品以及低真空條件下的研究。通常使用鎢燈絲作為電子槍源，它能夠提供高亮度的電子束，并且具有較好的穩(wěn)定性和較長的使用壽命，廣泛應(yīng)用于生物學(xué)、材料學(xué)等多個領(lǐng)域。環(huán)境掃描鎢燈絲電鏡特別適用于生物樣品的觀察，其優(yōu)勢主要體現(xiàn)在以下幾個方面：1、保留樣品的自然狀態(tài)最大的優(yōu)勢之一是能夠在接近自然的濕度和溫度條件下...

2025

9-5

STEM透射電鏡在半導(dǎo)體領(lǐng)域的應(yīng)用

透射電子顯微鏡和掃描透射電子顯微鏡是現(xiàn)代電子顯微學(xué)中非常重要的兩種技術(shù)。STEM透射電鏡結(jié)合了掃描電子顯微鏡和透射電子顯微鏡（TEM）的優(yōu)點(diǎn)，在半導(dǎo)體領(lǐng)域的應(yīng)用尤為廣泛，特別是在半導(dǎo)體材料、器件結(jié)構(gòu)以及缺陷分析等方面，具有重要的意義。以下是STEM透射電鏡在半導(dǎo)體領(lǐng)域的幾項(xiàng)關(guān)鍵應(yīng)用。一、半導(dǎo)體材料的微觀結(jié)構(gòu)表征半導(dǎo)體材料的微觀結(jié)構(gòu)對其性能至關(guān)重要。在半導(dǎo)體制造過程中，材料的晶體質(zhì)量、晶界、缺陷等都直接影響最終產(chǎn)品的性能。它能夠提供原子級別的分辨率，是研究半導(dǎo)體材料微觀結(jié)構(gòu)的理...

2025

8-21

掃描透射電子顯微鏡（STEM）的原理與優(yōu)勢

掃描透射電子顯微鏡（STEM）是一種融合透射電子顯微鏡（TEM）與掃描電子顯微鏡（SEM）技術(shù)的分析工具，其核心原理基于高能電子束與樣品的相互作用及逐點(diǎn)掃描成像機(jī)制。工作原理：STEM通過場發(fā)射電子槍產(chǎn)生高度聚焦的電子束，經(jīng)電磁透鏡系統(tǒng)會聚成原子尺度的電子探針。在掃描線圈控制下，電子探針在樣品表面進(jìn)行逐點(diǎn)光柵掃描。當(dāng)電子束穿透樣品時，與原子發(fā)生彈性/非彈性散射，透射電子或散射電子被樣品下方的探測器接收。例如，環(huán)形暗場（ADF）探測器收集高角度散射電子，其信號強(qiáng)度與原子序數(shù)平方...

2025

8-16

高分辨率掃描電鏡在生物樣品分析中的應(yīng)用

高分辨率掃描電鏡在生物樣品分析中具有極為重要的應(yīng)用價值。它通過掃描電子束與樣品表面相互作用，提供高分辨率的表面形貌圖像，并能夠獲取樣品的組成、結(jié)構(gòu)及其功能特性。特別是在生物學(xué)、醫(yī)學(xué)以及生命科學(xué)領(lǐng)域，被廣泛應(yīng)用于觀察細(xì)胞、組織以及微觀生物結(jié)構(gòu)的細(xì)節(jié)。本文將討論高分辨率掃描電鏡在生物樣品分析中的應(yīng)用。一、細(xì)胞形態(tài)和表面結(jié)構(gòu)的觀察它能夠詳細(xì)觀察到細(xì)胞的形態(tài)、表面結(jié)構(gòu)以及細(xì)胞間的相互作用。例如，在觀察細(xì)胞表面時，能夠清晰地揭示細(xì)胞膜的形態(tài)、細(xì)胞突起、微絨毛等微觀結(jié)構(gòu)。此外，還可以用于...

2025

8-13

環(huán)境真空掃描電鏡的原理與技術(shù)優(yōu)勢

環(huán)境真空掃描電鏡是一種結(jié)合掃描電子顯微鏡與環(huán)境控制技術(shù)的高分辨率顯微技術(shù)，能夠在較寬的環(huán)境條件下進(jìn)行樣品的觀察和分析，特別適用于在傳統(tǒng)掃描電子顯微鏡無法有效操作的樣品，如水分較多、有氣體揮發(fā)或是需要特定氣氛的樣品。一、工作原理環(huán)境真空掃描電鏡的核心原理與傳統(tǒng)SEM類似，都是通過掃描電子束與樣品表面相互作用產(chǎn)生信號，并通過這些信號獲取圖像。然而，最大的特點(diǎn)是在掃描過程中，樣品并不需要像傳統(tǒng)SEM一樣在高真空條件下操作，而是可以在一定的氣壓范圍內(nèi)進(jìn)行分析。為了實(shí)現(xiàn)這一點(diǎn)，它采用了...

2025

8-10

透射掃描電子顯微鏡在納米科學(xué)中的應(yīng)用

透射掃描電子顯微鏡是一種結(jié)合了透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡優(yōu)點(diǎn)的高分辨率顯微技術(shù)。在納米科學(xué)研究中，憑借其超高的分辨率和能夠?qū)悠愤M(jìn)行多層次、多角度分析的能力，成為了重要的實(shí)驗(yàn)工具。本文將探討透射掃描電子顯微鏡在納米科學(xué)中的應(yīng)用。一、納米材料的結(jié)構(gòu)表征納米材料在納米科技中具有重要的應(yīng)用，如納米管、納米顆粒、量子點(diǎn)等。它能夠以很高的分辨率觀察到這些材料的結(jié)構(gòu)、尺寸、形態(tài)和排列。通過使用，可以詳細(xì)了解納米材料的形貌特征、缺陷、晶格結(jié)構(gòu)等，從而為其設(shè)計與優(yōu)化提供基礎(chǔ)數(shù)據(jù)。例如，可...

2025

8-7

場發(fā)射電鏡的基本原理與技術(shù)特點(diǎn)

場發(fā)射電鏡是一種應(yīng)用于高分辨率成像的電子顯微鏡。與傳統(tǒng)的掃描電子顯微鏡（SEM）不同，它使用場發(fā)射源作為電子束的發(fā)射源，能夠提供比熱發(fā)射電子槍更高的亮度和更小的電子束斑。一、基本原理場發(fā)射電鏡的工作原理基于場發(fā)射效應(yīng)。在高電場的作用下，電子從金屬表面被“拉出”，并加速形成電子束。電子束在電鏡中經(jīng)過透鏡系統(tǒng)的聚焦后，照射到樣品表面，掃描樣品并與其相互作用，產(chǎn)生二次電子、背散射電子和X射線等信號，這些信號被探測器接收并轉(zhuǎn)化為圖像。其核心優(yōu)勢在于其電子源——場發(fā)射源，通常是冷場發(fā)射...

2025

7-21

便攜式合金分析儀的工作原理：XRF與LIBS技術(shù)對比

便攜式合金分析儀的核心技術(shù)以X射線熒光光譜（XRF）與激光誘導(dǎo)擊穿光譜（LIBS）為主，二者在原理、應(yīng)用場景及性能上存在顯著差異。XRF技術(shù)基于元素特征熒光效應(yīng)，通過X射線管發(fā)射高能X射線激發(fā)樣品原子內(nèi)層電子，外層電子躍遷填補(bǔ)空位時釋放特定能量的二次X射線（熒光）。探測器捕獲熒光能量后，與內(nèi)置數(shù)據(jù)庫比對實(shí)現(xiàn)元素定性定量分析。該技術(shù)優(yōu)勢在于無損檢測，無需樣品預(yù)處理，檢測范圍覆蓋鈦、釩等21種元素，精度達(dá)0.03%-0.5%。例如，奧林巴斯Axon系列采用硅漂移探測器（SDD）與...

2025

7-16

FIB雙束電鏡在集成電路失效分析中的應(yīng)用

FIB雙束電鏡是一種集成了聚焦離子束（FIB）和掃描電子顯微鏡（SEM）技術(shù)的復(fù)合型儀器。該儀器在集成電路（IC）失效分析中具有重要的應(yīng)用價值，能夠?qū)﹄娮釉?nèi)部的結(jié)構(gòu)和失效機(jī)理進(jìn)行深入的研究與分析。集成電路失效分析的核心任務(wù)是確定電路或芯片失效的根本原因，分析過程通常需要對芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行深入剖析。FIB雙束電鏡在這一過程中提供了許多重要的技術(shù)支持，具體應(yīng)用如下：1、電路故障定位與剖析集成電路的故障通常由微小的物理損傷、連接斷裂、污染或過熱等原因引起。它能夠通過聚焦離子束對...

2025

7-13

sem掃描電鏡在微觀結(jié)構(gòu)分析中的重要性

sem掃描電鏡是一種利用電子束掃描樣品表面，通過探測二次電子或反射電子的信號，生成高分辨率圖像的電子顯微鏡。與傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡相比，它具有更高的放大倍率、更強(qiáng)的深度景深和更廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域，尤其在微觀結(jié)構(gòu)分析中展現(xiàn)出巨大的優(yōu)勢。sem掃描電鏡在微觀結(jié)構(gòu)分析中的重要性，主要體現(xiàn)在以下幾個方面：1、高分辨率與細(xì)節(jié)呈現(xiàn)最大的優(yōu)勢之一是其很高的分辨率，通常能夠達(dá)到納米級別，遠(yuǎn)高于傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡的分辨率。通過掃描電子束，能夠呈現(xiàn)出樣品表面最細(xì)微的結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)，例如微小的裂紋、孔隙、表面形貌、...