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- Prisma E SEMFEI掃描電鏡
FEI掃描電鏡Prisma E SEM是一款高度靈活的掃描電子顯微鏡（SEM），在各種條件下都能有出色的*性能。
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- 更新日期：2025-09-10 ￥面議
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- Quattro環(huán)境掃描電子顯微鏡
Quattro SEM環(huán)境掃描電子顯微鏡為具有環(huán)境真空功能的靈活、多功能高分辨率掃描電鏡，可以將成像和分析全面性能與環(huán)境模式（ESEM）相結(jié)合，使得樣品研究得以在自然狀態(tài)下進(jìn)行。
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- 更新日期：2025-09-10 ￥面議
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- Quattro高分辨率掃描電鏡
Quattro SEM為具有環(huán)境真空功能的靈活、多功能高分辨率掃描電鏡，可以將成像和分析全面性能與環(huán)境模式（ESEM）相結(jié)合，使得樣品研究得以在自然狀態(tài)下進(jìn)行。
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- 更新日期：2025-09-10 ￥面議
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- Quattro SEM場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
Quattro場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡的場(chǎng)發(fā)射電子槍（FEG）確保了優(yōu)異的分辨率，通過不同的探測(cè)器選項(xiàng)，可以調(diào)節(jié)不同襯度信息，包括定向背散射、STEM和陰極熒光信息。
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- 更新日期：2025-09-10 ￥面議
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- Prisma ESEM掃描電鏡
Prisma E SEM掃描電鏡是一款高度靈活的掃描電子顯微鏡（SEM），在各種條件下都能有出色的全能性能。基于其低真空和環(huán)境掃描的SEM （ESEM）模式，它*具備分析不導(dǎo)電，含氣體、水分或其它非常規(guī)測(cè)試的樣品。
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- 更新日期：2023-03-20 ￥面議
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- OTS一鍵夾雜物分析系統(tǒng)
OTS一鍵夾雜物分析系統(tǒng)是一套集掃描電子顯微鏡、大面積高速能譜探測(cè)器、夾雜物自動(dòng)分析軟件以及樣品潔凈度評(píng) 價(jià)及建議為一體的綜合性分析系統(tǒng)。該系統(tǒng)不僅具有完備的電子光學(xué)成像系統(tǒng)，能對(duì)鋼中非金屬夾雜物的微觀形貌進(jìn)行清晰觀察，而且配有 業(yè)界領(lǐng)x的大面積高速X射線能譜儀，自動(dòng)對(duì)試樣選定區(qū)域內(nèi)所有鋼中非金屬夾雜物的化學(xué)成分進(jìn)行快速準(zhǔn)確分析。
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- 更新日期：2023-03-20 ￥面議
